发明名称 |
薄膜トランジスタ装置とその製造方法、および表示装置 |
摘要 |
薄膜トランジスタ装置は、基板、ゲート電極、ソース電極およびドレイン電極、チャネル層、パッシベーション層を備える。チャネル層は、酸化物半導体材料からなり、パッシベーション層は、基板の側から第1層、第2層、および第3層を含む積層構成を有する。このうち、第1層は酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリコンの何れかからなり、第2層はアルミニウムの化合物からなり、第3層は酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリコンの何れかからなる。 |
申请公布号 |
JPWO2014192221(A1) |
申请公布日期 |
2017.02.23 |
申请号 |
JP20150519621 |
申请日期 |
2014.04.24 |
申请人 |
株式会社JOLED |
发明人 |
菅原 祐太 |
分类号 |
H01L21/336;H01L29/786;H01L51/50 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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