发明名称 薄膜トランジスタ装置とその製造方法、および表示装置
摘要 薄膜トランジスタ装置は、基板、ゲート電極、ソース電極およびドレイン電極、チャネル層、パッシベーション層を備える。チャネル層は、酸化物半導体材料からなり、パッシベーション層は、基板の側から第1層、第2層、および第3層を含む積層構成を有する。このうち、第1層は酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリコンの何れかからなり、第2層はアルミニウムの化合物からなり、第3層は酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリコンの何れかからなる。
申请公布号 JPWO2014192221(A1) 申请公布日期 2017.02.23
申请号 JP20150519621 申请日期 2014.04.24
申请人 株式会社JOLED 发明人 菅原 祐太
分类号 H01L21/336;H01L29/786;H01L51/50 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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