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经营范围
发明名称
半導体装置
摘要
【課題】半導体装置の信頼性を向上させる。【解決手段】半導体装置PKG1は、配線基板10の上面10tに搭載される半導体デバイス(半導体チップまたは半導体パッケージ)であるメモリデバイスMCを含んでいる。また、上面10tにおいて、メモリデバイスMCと上面10tが有する基板辺10s1との間隔SP1は、メモリデバイスMCと上面10tが有する基板辺10s2との間隔SP2よりも小さい。また、上面10tにおいて、メモリデバイスM1と基板辺10s1との間には、ダム部DMが形成されている。【選択図】図8
申请公布号
JP2017041603(A)
申请公布日期
2017.02.23
申请号
JP20150163959
申请日期
2015.08.21
申请人
ルネサスエレクトロニクス株式会社
发明人
桂 洋介;田沼 祐輔
分类号
H01L23/28;H01L21/60;H01L23/12;H01L25/04;H01L25/18
主分类号
H01L23/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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