| 摘要 |
【課題】最新の半導体デバイスに対応することが容易であり、および／または、コストの上昇を抑制可能なテストシステムを提供する。【解決手段】少なくともひとつの汎用サーバ１１０は、イーサネット（登録商標）を介してＰＥモジュール１２０と接続される。ＰＥモジュール１２０の制御部１３０は、ＰＥ回路１２２および複数のフェイルメモリ１２４をリアルタイム制御するとともに、複数のフェイルメモリ１２４のフェイル情報を一旦保持し、データ処理した後に汎用サーバ１１０へと転送する。汎用サーバ１１０は、ＰＥモジュール１２０からのデータにもとづいてＤＵＴ２０２の冗長救済解析を行うように、プログラム制御される。【選択図】図２ |
