发明名称 |
Verfahren zum schnellen Lokalisieren eines entschlüsselbaren Musters |
摘要 |
Offenbart wird ein Verfahren zum schnellen Lokalisieren eines entschlüsselbaren Musters in einem Eingabebild, das durch das Verwenden eines übermäßig herunterskalierten Binärbildes nicht nur zum Verringern der Rechenzeit, sondern auch zum Vereinfachen des Extrahierens von Gerüsten zum schnellen und genauen Lokalisieren eines Musters gekennzeichnet ist. Zunächst wird zum Erhalten eines um ein n-faches herunterskalierten Binärbildes eine Vorverarbeitung bei einem Eingabebild angewendet, von dem mindestens ein Gerüst extrahiert wird, das einem entschlüsselbaren Muster entspricht. Koordinatenwerte mindestens eines Bildpunktes jedes Gerüstes werden jeweils um ein n1/2-faches vergrößert und als die zentralen Punkte auf der ursprünglichen Bildebene verwendet, um eine Mehrzahl von Erkennungsblöcken mit gleicher Größe zu erstellen. Anschließend wird zum Ermitteln der jeweiligen Erkennungsblöcke des entschlüsselbaren Musters ein Einstufungsmechanismus angewendet. |
申请公布号 |
DE102009059264(B4) |
申请公布日期 |
2017.02.23 |
申请号 |
DE20091059264 |
申请日期 |
2009.12.22 |
申请人 |
Armorlink SH Corp.;IEI INTEGRATION CORP. |
发明人 |
Tseng, Chun-Shun;Jheng, Ya-Yun;Jhuang, Ming-Chi;Chen, Shih-Hsun;Cheng, Hai-Peng;Hsiang, Te-Heng;Wang, Jung-Hua |
分类号 |
G06K9/32 |
主分类号 |
G06K9/32 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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