发明名称 | 一种X射线分幅相机曝光时间的测量装置 | ||
摘要 | 本发明提供了一种X射线分幅相机曝光时间的测量装置,所述装置包括沿光路方向顺序排列的激光器、光束分割延迟器、标准具和真空腔体。激光器输出的激光束被光束分割延迟器分割为等空间间距、等时间间隔的序列子光束Ⅰ,再正入射到标准具,转化成一系列与标准具的光程差相同、光强逐渐减弱的序列子光束Ⅱ,序列子光束Ⅱ透过真空腔体前端面的玻璃窗口,照射到X射线分幅相机的微带线阴极上,经选通成像后得到曝光图像,获得曝光时间。该测量装置具有体积小,效率高,测量结果直观易见的优点,能精密标定曝光时间小于10ps的X射线分幅相机,为X射线分幅相机的诊断测试数据的处理和理论程序的校验提供依据。 | ||
申请公布号 | CN106454334A | 申请公布日期 | 2017.02.22 |
申请号 | CN201611013324.4 | 申请日期 | 2016.11.18 |
申请人 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 发明人 | 袁铮;陈韬;曹柱荣;邓克立;杨志文;李晋 |
分类号 | H04N17/00(2006.01)I | 主分类号 | H04N17/00(2006.01)I |
代理机构 | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人 | 翟长明;韩志英 |
主权项 | 一种X射线分幅相机曝光时间的测量装置,其特征在于,包括沿光路方向顺序排列的激光器(1)、光束分割延迟器(2)、标准具(3)和真空腔体(4);所述的激光器(1)输出的激光束照射到光束分割延迟器(2)上,被光束分割延迟器(2)分割为等空间间距、等时间间隔的序列子光束Ⅰ;序列子光束Ⅰ正入射到标准具(3),经标准具(3)后序列子光束Ⅰ转化成一系列与标准具(3)的光程差相同、光强逐渐减弱的序列子光束Ⅱ,序列子光束Ⅱ透过真空腔体(4)前端面的玻璃窗口,进入真空腔体(4),照射到X射线分幅相机(5)的微带线阴极上;所述的真空腔体(4)的后端面与X射线分幅相机(5)的前端面通过带密封圈的真空密封面密封连接;所述的激光器(1)输出的激光束的波长为X射线分幅相机(5)的响应波长,激光束的脉宽小于等于X射线分幅相机(4)曝光时间的1/10,激光束的光斑直径大于等于X射线分幅相机5的微带线阴极的宽度;所述的标准具(3)的光程差大于等于X射线分幅相机曝光时间的2倍;所述的序列子光束Ⅰ的子光束的强度一致,序列子光束Ⅰ的子光束的宽度小于等于X射线分幅相机(5)的微带线阴极宽度的1/12;所述的序列子光束Ⅰ的相邻子光束的空间距离小于X射线分幅相机微带线阴极宽度的1/7,相邻子光束的时间间隔小于等于X射线分幅相机曝光时间的1/2。 | ||
地址 | 621999 四川省绵阳市919信箱986分箱 |