发明名称 |
一种液晶盒测试电路、显示面板和装置 |
摘要 |
本发明提供了一种用于液晶盒测试电路、显示面板和装置,该测试电路包括:测试使能信号端,用于输入测试使能信号;多个测试数据信号端,用于输入测试数据信号并且按预定规则分组并联;多个第一晶体管,其栅极连接测试使能信号端,源极连接至一一对应的测试数据信号端,漏极连接液晶盒,由测试使能信号控制打开以将测试数据信号输入至液晶盒,其中,在液晶盒测试完毕后,通过控制测试使能信号和测试数据信号,使得多个第一晶体管的栅源极电压为零。本发明可以有效防止测试数据信号通过测试晶体管漏电形成的串扰问题。 |
申请公布号 |
CN106444107A |
申请公布日期 |
2017.02.22 |
申请号 |
CN201610955423.8 |
申请日期 |
2016.10.27 |
申请人 |
武汉华星光电技术有限公司 |
发明人 |
龚强 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 |
代理人 |
吴大建 |
主权项 |
一种液晶盒测试电路,包括:测试使能信号端,用于输入测试使能信号;多个测试数据信号端,用于输入测试数据信号并且按预定规则分组并联;多个第一晶体管,其栅极连接所述测试使能信号端,源极连接至一一对应的测试数据信号端,漏极连接液晶盒,由所述测试使能信号控制打开以将所述测试数据信号输入至液晶盒,其中,在液晶盒测试完毕后,通过控制所述测试使能信号和所述测试数据信号,使得多个第一晶体管的栅源极电压为零。 |
地址 |
430070 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 |