发明名称 一种LED垂直芯片结构及制作方法
摘要 本发明涉及公开了一种LED垂直芯片结构及制作方法,所述LED垂直芯片结构自下到上依次设有衬底、石墨烯层、ZnO纳米墙/GaN层、n‑GaN层、InGaN/GaN多量子阱及p‑GaN。相比传统蓝宝石衬底LED芯片,发光面积大,散热能力强,不存在电流拥堵效应。同时,由于此LED垂直芯片为直接外延生长,相较于剥离‑键合工艺制备的垂直结构LED,省去了剥离和键合工艺,使得工艺简化、成品率高。
申请公布号 CN103258926B 申请公布日期 2017.02.22
申请号 CN201310156642.6 申请日期 2013.04.28
申请人 西安交通大学 发明人 张景文;布恩辉;孟鹂;安健;李奉南;候洵
分类号 H01L33/02(2010.01)I;H01L33/64(2010.01)I 主分类号 H01L33/02(2010.01)I
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人 徐文权
主权项 一种LED垂直芯片结构的制作方法,所述LED垂直芯片结构自下到上依次设有衬底、石墨烯层、ZnO纳米墙、n‑GaN层、InGaN/GaN多量子阱及p‑GaN;所述衬底为Si;所述衬底的厚度为20~500μm;所述石墨烯层的厚度为1~10层的石墨烯;所述ZnO纳米墙厚度为2~5μm,其特征在于,制作方法包括以下步骤:1)在硅衬底上,扩散炉氧化生成厚度为300nm的SiO<sub>2</sub>,然后用电子束蒸发的方法在SiO<sub>2</sub>层上面镀厚度为300nm的Ni,即可得到镀Ni的硅衬底;2)将镀Ni的硅衬底放入通氩气的石英炉中,加热至1000℃,并往石英炉内通入反应气体,然后以10℃s<sup>‑1</sup>的速率冷却至室温,所述反应气体为CH<sub>4</sub>:H<sub>2</sub>:Ar=50:65:200sccm,所述镀Ni的硅衬底上即可制备出石墨烯;3)将PDMS贴至石墨烯上,用FeCl<sub>3</sub>腐蚀Ni,腐蚀完成后,带有石墨烯的PDMS片则会漂浮在液面上,将带有石墨烯的PDMS片用水清洗后粘贴在衬底上,使所述石墨烯粘贴在衬底上;4)用氧分压为100mTorr及电流为50mA的氧气等离子体处理石墨烯,使石墨烯表面变得粗糙,然后用纯度大于99.9999%的DEZn和纯度大于99.9999%的氧气作为Zn源和氧源,以纯度大于99.9999%的氩气作为载气,在气压为6Torr、温度为600℃的条件下生长ZnO纳米墙;5)根据MOCVD法依次向所述ZnO纳米墙外延生长n‑GaN层、InGaN/GaN多量子阱及p‑GaN,即可得到所述LED垂直芯片结构。
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