发明名称 具有应力去耦结构的MEMS构件和具有这种MEMS构件的元器件
摘要 本发明提出措施,该措施以简单的方式并且可靠地促进MEMS功能元件与MEMS构件结构机械去耦。所述MEMS构件(110)包括至少一个可偏转的功能元件(14),该功能元件以层结构(12)在MEMS衬底(11)上实现,由此在层结构(12)与MEMS衬底(11)之间至少在功能元件(14)区域中产生中间空间(15)。根据本发明,在MEMS衬底(11)中以盲孔式的沟道结构(171)的形式构造应力去耦结构(17),该沟道结构向着层结构(12)与MEMS衬底(11)之间的中间空间(15)敞开并且向MEMS衬底(11)中只延伸到预给定深度,使得MEMS衬底(11)至少在沟道结构(171)区域中在背面封闭。
申请公布号 CN106458570A 申请公布日期 2017.02.22
申请号 CN201580029425.8 申请日期 2015.05.29
申请人 罗伯特·博世有限公司 发明人 J·克拉森;J·赖因穆特;M·哈塔斯;R·赖兴巴赫;A·皮格勒尼耶
分类号 B81B7/00(2006.01)I 主分类号 B81B7/00(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 侯鸣慧
主权项 MEMS构件(110),具有至少一个可偏转的功能元件(14),该功能元件以层结构(12)在MEMS衬底(11)上实现,使得在所述层结构(12)与所述MEMS衬底(11)之间至少在所述功能元件(14)区域中产生中间空间(15),所述MEMS构件还具有应力去耦结构(17),该应力去耦结构在所述MEMS衬底(11)中构造,其特征在于,所述应力去耦结构(17)以盲孔式的沟道结构(171)的形式在所述MEMS衬底(11)中实现,该沟道结构向着所述层结构(12)与所述MEMS衬底(11)之间的中间空间(15)敞开并且向MEMS衬底(11)中只延伸到预给定深度,使得所述MEMS衬底(11)至少在沟道结构(171)区域中在背面封闭。
地址 德国斯图加特