发明名称 一种基于空时过采样扫描的弱小点目标精确定位方法及系统
摘要 本发明提供一种基于空时过采样扫描的弱小点目标精确定位方法及系统,方法包括步骤:构造M个线列探测器;扫描得到M组图像,对扫描得到的图像进行非均匀性校正,再按照时间和空间采样周期将M组图像镶嵌为图像F′并去除边缘;去除图像F中的随机噪声;对去噪后的图像进行阈值滤波,得到二值化图像F<sub>1</sub>;使用连通区域法寻找图像F<sub>1</sub>中的弱小点目标区域;找出图像F中对应的弱小点目标区域,采用一阶矩的质心提取方法确定弱小点目标质心位置,以实现图像F中对应弱小点目标的精确定位。实施本发明克服了现有过采样技术存在采样数据处理时间长,信息处理流程复杂的问题,并且可在不改变现有光学系统光学口径、焦距的情况下获得高精度的目标点定位。
申请公布号 CN104502992B 申请公布日期 2017.02.22
申请号 CN201410855945.1 申请日期 2014.12.31
申请人 中国人民解放军空军预警学院;中国科学院上海技术物理研究所 发明人 王成良;饶鹏;欧阳琰;许春;闫世强;苏海军;朱勇;王志斌;王树文;刘辉;石斌斌;李世飞;姜海林;易丽君
分类号 G01V8/10(2006.01)I 主分类号 G01V8/10(2006.01)I
代理机构 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人 宋业斌
主权项 一种基于空时过采样扫描的弱小点目标定位方法,其特征在于,所述方法包括步骤:S1、构造M个线列探测器,其包含M条扫描线列C<sub>1</sub>,C<sub>2</sub>,…,C<sub>M</sub>,每一条线列探测器均包含N个像元,其中M≥2,N≥3;在线列方向上线列探测器中的每条线列之间错开1/M个像元间距,以满足空间M倍过采样的要求;调整各线列探测器的单次采样周期T,在扫描方向上使线列探测器在采样周期T内移动1/L个像元间距,以满足L倍时间上过采样的要求,L≥2;S2、启用M个线列探测器进行扫描得到M组图像,对扫描得到的图像进行非均匀性校正,再按照时间和空间采样周期将M组图像镶嵌为图像F′;S3、去除图像F′的边缘得到图像F,完成图像F中的弱小点目标定位;所述步骤S2中按照时间和空间采样周期将M组图像镶嵌为图像F′的具体实现方式为:定义每幅图像大小为(K×L)×N个像素,所述K为单次扫描过程所遍历的采样周期的个数;将C<sub>1</sub>线列采集的图像第一列像元作为图像F′的第一列,将C<sub>2</sub>线列采集的图像第一列在垂直方向上错开1个像元后插入到图像F′的第二列,以此类推,直到C<sub>M</sub>线列采集的图像第一列在垂直方向上错开M‑1个像元插入到图像F′的第M列;接着将C<sub>1</sub>线列采集图像的第二列像元作为图像F′的第M+1列,垂直方向上的位置与图像F′的第1列相同,将C<sub>2</sub>线列采集图像的第二列,相对于第M+1列在垂直方向上错开1个像元后插入到图像F′的第M+2列,以此类推直到C<sub>M</sub>线列采集图像的第二列在垂直方向上错开M‑1个像元插入到图像F′的第2M列,采用相同的方式直到得到大小为(K×L)×(N×M)的图像F′。
地址 430019 湖北省武汉市黄浦大街288号