自适应量程电阻测试方法

摘要

本发明公开了一种自适应量程电阻测试方法，包括以下步骤：S1、在电阻上通入电流I_a，使电阻两端形成电压差，设置测试量程为V_lim1；S2、在电流I_a下量取电阻两端的电压差V_a1；S3、在电阻上通入电流I_b，使电阻两端形成电压差，以V_a1为基数设置新的测试量程V_lim2，其中V_a1、I_b、V_a1和I_a满足V_lim2/I_b≥V_a1/I_a；S4、在电流I_b下量取电阻两端的电压差V_a2；S5、根据I_b和V_a2计算并输出电阻两端的阻值。本发明在保证电压不超出量程的情况下，提高了电压测量的分辨率，进而提高电阻的测量精度，减小了电阻测试误差，满足了工艺需要。

主权项

一种自适应量程电阻测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1、在电阻上通入电流I_a，使电阻两端形成电压差，设置测试量程为V_lim1；S2、在电流I_a下测量电阻两端的电压差V_a1；S3、在电阻上通入电流I_b，使电阻两端形成电压差，以V_a1为基数设置新的测试量程V_lim2，其中V_lim2、I_b、V_a1和I_a满足V_lim2/I_b≥V_a1/I_a；S4、在电流I_b下测量电阻两端的电压差V_a2；S5、根据I_b和V_a2测算并输出电阻两端的阻值；所述V_lim2、I_b、V_a1和I_a满足(V_lim2/I_b)/(V_a1/I_a)＝k，k为常数且1≤k≤1.2，步骤S3中新的测试量程V_lim2为k*V_a1*(I_b/I_a)。