发明名称 一种电能计量芯片的验证方法
摘要 本发明公开了一种电能计量芯片的验证方法,通过获取测试向量信息,根据该信息对待测芯片进行配置,并获取测试向量对应的测试数据,根据测试数据与参考结果进行比较,得到比较结果,根据比较结果判断实时待测芯片是否正常。本方案通过自动读取测试向量,自动配置芯片,自动比较测试结果,实现了电能计量芯片验证的自动化,提高了芯片验证的速度及准确性,避免了人工比较的过程,减轻了技术人员的劳动量,提高了工作效率,进一步加快了电能计量芯片上市的速度。
申请公布号 CN103728553B 申请公布日期 2017.02.22
申请号 CN201310754937.3 申请日期 2013.12.31
申请人 杭州万高科技股份有限公司 发明人 黄苏芳;杨昆;孔泉
分类号 G01R31/3177(2006.01)I;G01R31/3181(2006.01)I;G01R35/04(2006.01)I 主分类号 G01R31/3177(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 王宝筠
主权项 一种电能计量芯片的验证方法,其特征在于,包括:获取测试向量,具体为:根据遍历和组合后的测试值生成测试向量;将所述测试向量保存至测试向量库中,所述测试向量库中包括若干用于测试芯片的数字功能的测试向量;从所述测试向量库中读取需要测试的测试向量;其中,测试向量包括:各通道信号源幅度、相位、直流偏置以及频率、有效值校正值、功率校正值及角差校正值的信息,在生成测试向量时,选择其中一项信息,其他信息的值保持不变,仅调整该项信息的值,组合形成该项信息的测试值,遍历该项信息的测试值,遍历完之后存放在一个文件夹中,再选择遍历下一项信息的测试值,直至遍历完全部信息的测试值;根据所述测试向量对待测芯片进行配置,并获取测试向量对应的测试数据;将所述测试数据与预先设置的参考结果进行比较,根据比较结果判断所述待测芯片的数字功能是否正常。
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