| 发明名称 | 隔振器贮存寿命加速试验方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种隔振器贮存寿命加速试验方法，包括：随机选取若干隔振器，在不同老化温度下进行模拟夹具振动试验；得到不同老化温度下隔振器的阻尼比与老化时间的原始曲线；通过拟合方式确定不同老化温度下隔振器的阻尼比与老化时间的拟合函数，得到不同老化温度下隔振器的伪寿命均值；根据不同老化温度下隔振器的伪寿命均值与温度，结合隔振器加速模型得到隔振器的贮存寿命。本发明提出的隔振器贮存寿命加速试验方法，能够得到真实可信的且具有很高参考价值的隔振器贮存寿命。 | ||
| 申请公布号 | CN103630343B | 申请公布日期 | 2017.02.22 |
| 申请号 | CN201310499708.1 | 申请日期 | 2013.10.22 |
| 申请人 | 航天科工防御技术研究试验中心 | 发明人 | 赵艳涛;王海燕;祝捷 |
| 分类号 | G01M13/00(2006.01)I;G01M7/02(2006.01)I;G01N3/08(2006.01)I | 主分类号 | G01M13/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人 | 李弘;陈安平 |
| 主权项 | 一种隔振器贮存寿命加速试验方法，其特征在于，包括：随机选取若干隔振器，在不同老化温度下进行模拟夹具振动试验；得到不同老化温度下隔振器的阻尼比与老化时间的原始曲线；通过将不同老化温度下隔振器的阻尼比与老化时间的原始曲线分为下降段和上升段，通过拟合的方式确定上升段的拟合函数，得到不同老化温度下隔振器的伪寿命；其中，对所述上升段采用直线y＝at+b进行拟合；根据不同老化温度下隔振器的伪寿命，结合隔振器加速模型得到隔振器的贮存寿命；所述加速模型为阿伦尼斯模型；其中，所述得到不同老化温度下隔振器的伪寿命的步骤还包括确定隔振器加速试验失效标准的步骤，其包括：确定隔振器的加速老化失效时间；对测得的上升段加速老化时间对应的每个所述隔振器的阻尼比采用y＝at+b进行拟合，其中y为阻尼比，t为对应的加速老化时间；得到每个所述隔振器的拟合直线<img file="FDA0001121799170000011.GIF" wi="299" he="121" />其中<img file="FDA0001121799170000012.GIF" wi="47" he="112" />为阻尼比拟合值，<img file="FDA0001121799170000013.GIF" wi="54" he="98" />为拟合退化斜率，<img file="FDA0001121799170000014.GIF" wi="57" he="99" />为拟合常数，t为对应的加速老化时间；取各试品的拟合直线在上升段Δt对应的阻尼比拟合值退化量<img file="FDA0001121799170000015.GIF" wi="424" he="104" />进行统计，其中，t<sub>初</sub>为阻尼比初始下降段时间，t为对应的加速老化时间；取其极大似然估计<img file="FDA0001121799170000016.GIF" wi="294" he="155" />作为隔振器失效标准；根据所确定的失效标准D<sub>ξ</sub>和不同老化温度下每个隔振器的退化斜率<img file="FDA0001121799170000017.GIF" wi="74" he="95" />得到每个隔振器对应的上升段退化失效时间<img file="FDA0001121799170000018.GIF" wi="233" he="111" />计算得到不同老化温度下每个隔振器的伪寿命<img file="FDA0001121799170000019.GIF" wi="483" he="103" /> | ||
| 地址 | 100085 北京市海淀区永定路50号 | ||