发明名称 | 超分辨率算法的多层同轴全息显微成像系统和成像方法 | ||
摘要 | 一种超分辨率算法的多层数字同轴全息成像系统和成像方法,该系统含有同轴的相干光源、设置多层样品的和成像芯片,所述的样品架具有驱动的微型马达,所述的成像芯片的输出端与计算机或电脑的输入端相连。利用超分辨率算法,将所述的N幅较低分辨率的全息图重构成为N幅具有不同焦距的高分辨率全息重构图。本发明系统摆脱了精确移动结构,具有结构简化、可用于各种典型的多层生物样品及非生物样品的特点,成像方法利用超分辨率算法,是确定性方法,具有超分辨率效果。通过多幅低分辨率的图像得到高分辨率重构图像。 | ||
申请公布号 | CN106442412A | 申请公布日期 | 2017.02.22 |
申请号 | CN201610787259.4 | 申请日期 | 2016.08.31 |
申请人 | 上海交通大学 | 发明人 | 吴继刚;王铭君;冯召东;蔡迅捷 |
分类号 | G01N21/45(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/45(2006.01)I |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人 | 张宁展 |
主权项 | 一种超分辨算法的同轴全息成像系统,其特征在于该系统含有同轴的相干光源、设置多层样品的样品架和成像芯片,所述的样品架具有驱动的微型马达,所述的成像芯片的输出端与计算机或电脑的输入端相连。 | ||
地址 | 200240 上海市闵行区东川路800号 |