发明名称 |
具有防转动连杆的集成电路芯片测试机 |
摘要 |
公开了一种用于测试或连接集成电路的插座,插座具有平台,平台用于接收集成电路并被适配成覆盖测试仪器或其它板的件,平台形成有均使两件式连接器组件定位的槽的阵列。当集成电路坐落在平台上时,为了建立或评价通过IC的信号传输,两件式连接器组件以使IC上的触点焊盘与板之间形成接触的方式枢转。平台收纳有弹性的长形弹性体,长形弹性体对连接器组件施力使其从平台突出,从而与板或测试仪器接触。当IC被放置在平台上时,弹性管构件的施力被胜过,从而经由连接器组件建立电气连接。 |
申请公布号 |
CN106463863A |
申请公布日期 |
2017.02.22 |
申请号 |
CN201580033345.X |
申请日期 |
2015.04.22 |
申请人 |
埃克斯塞拉公司 |
发明人 |
V·兰达 |
分类号 |
H01R12/85(2006.01)I;H01R12/87(2006.01)I;H01R13/15(2006.01)I |
主分类号 |
H01R12/85(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇;张会华 |
主权项 |
一种插座,该插座用于使集成电路、即IC电气连结至板,使得信号能够传输至该板,所述插座包括:平台,其用于接收所述集成电路;多个两件式的连接器组件,各连接器组件均包括支座和能够绕着所述支座枢转的相关联的连杆;各支座均被保持在所述平台中,并且各支座在与相关联的连杆构件相对的横向侧均包括弯曲腔;各连杆构件均在上侧包括弧形接触面且均延伸到所述平台上方,所述连杆被适配成用于与所述集成电路滚动接触,所述支座的弯曲腔中坐落有端部倒圆的摇臂;多个所述连杆构件的下方坐落有长形弹性体,所述长形弹性体具有第一阶压缩响应和第二阶压缩响应;其中,所述集成电路与所述平台之间的接触使所述连杆抵抗所述长形弹性体的通过所述第一阶压缩响应至所述第二阶压缩响应的施力而枢转。 |
地址 |
美国马萨诸塞州 |