发明名称 Measuring Instrument For Multiple Single Phase Circuit
摘要 본 발명에 따른 단상 다중회로 계측장치(100)는, 내장된 관통형의 CT에서 생성된 전류 신호로부터 유래하는 전류 데이터와 통신모듈에서 수신한 전압 데이터를 이용하여 전력을 계산하되, 단일의 장치로써 인접하는 복수의 단상회로(4)를 모두 계측하는 단상 다중회로 계측장치(100)로서, 상기 인접하는 복수의 단상회로를 구성하는 전력선로중에서, 가장자리에 있는 두 개의 전력선로(4S)는 관통하지 않고 나머지 전력선로(4M)가 관통되도록 구성되며, 상기 관통하는 전력선로(4M)중 각 단상회로마다 적어도 하나의 전력선로에 대응하여 상기 관통형의 CT가 각각 설치되는 것을 특징으로 한다.
申请公布号 KR20170020006(A) 申请公布日期 2017.02.22
申请号 KR20150114626 申请日期 2015.08.13
申请人 주식회사 루텍 发明人 정창용;변영복;조국춘;문부기
分类号 G01R31/28;G01R1/22;G01R19/165 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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