método para calcular características de formação

摘要

resumo patente de invenção : "método para calcular características de formação". a presente invenção refere-se a um método para calcular uma característica de formação que inclui medir com pelo menos dois detectores, afastados um do outro, uma intensidade de raios gama e calcular a característica de formação calculando-se uma razão da intensidade dos raios gama detectada pelos dois detectores.