发明名称 HANDLER FOR TESTING SEMICONDUCTOR
摘要 본 발명은 반도체소자의 테스트를 지원하는 반도체소자 테스트용 핸들러에 관한 것이다. 본 발명에 따른 반도체소자 테스트용 핸들러는 테스터 측과 전기적으로 연결되는 적어도 하나의 테스트 소켓이 탈착 가능하게 설치되며, 반도체소자가 테스트되는 테스트위치에 있거나 상기 테스트위치로부터 벗어날 수 있는 소켓 플레이트; 상기 소켓 플레이트에 설치된 상기 적어도 하나의 테스트 소켓에 적어도 하나의 반도체소자를 공급하는 소자 공급기; 상기 소켓 플레이트를 상기 테스트위치에서 벗어나도록 이동시키거나 상기 테스트위치로 되돌리는 이동기; 및 상기 소자 공급기 및 이동기를 제어하는 제어기; 를 포함한다. 본 발명에 따르면 테스트될 반도체소자의 규격 변환 시에 테스트 소켓을 교체하는 작업이 신속하고 수월하게 이루어질 수 있어서 가동률을 향상시킬 수 있다.
申请公布号 KR20170019045(A) 申请公布日期 2017.02.21
申请号 KR20150112893 申请日期 2015.08.11
申请人 (주)테크윙 发明人 이진복;김진수;박선미
分类号 G01R31/26;G01R1/04;G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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