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发明名称
半導体装置およびその製造方法
摘要
【課題】半導体装置の性能向上を図る。【解決手段】素子分離部STIは、SOI基板から突出し、かつ、積み上げ層PULと接触する突出部PJUを有する。そして、SOI基板のシリコン層SILの表面を基準として、突出部PJUの上面の高さは、積み上げ層PULの上面の高さ以下で、かつ、積み上げ層PULの上面の高さの1/2以上であるように構成される。【選択図】図2
申请公布号
JP2017037957(A)
申请公布日期
2017.02.16
申请号
JP20150158206
申请日期
2015.08.10
申请人
ルネサスエレクトロニクス株式会社
发明人
尾田 秀一
分类号
H01L21/336;H01L29/786
主分类号
H01L21/336
代理机构
代理人
主权项
地址
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