发明名称 半導体装置およびその製造方法
摘要 【課題】半導体装置の性能向上を図る。【解決手段】素子分離部STIは、SOI基板から突出し、かつ、積み上げ層PULと接触する突出部PJUを有する。そして、SOI基板のシリコン層SILの表面を基準として、突出部PJUの上面の高さは、積み上げ層PULの上面の高さ以下で、かつ、積み上げ層PULの上面の高さの1/2以上であるように構成される。【選択図】図2
申请公布号 JP2017037957(A) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20150158206 申请日期 2015.08.10
申请人 ルネサスエレクトロニクス株式会社 发明人 尾田 秀一
分类号 H01L21/336;H01L29/786 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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