发明名称 荷電粒子検出器およびその制御方法
摘要 【課題】 低真空環境下でのイオンフィードバックを効果的に抑制するための構造を備えた荷電粒子検出器等を提供する。【解決手段】 MCPユニット200の出力面200b側に、それぞれ電気的に絶縁された第1電極300と第2電極400が配置される。第1電極300の電位は、電子などの負電荷粒子を捕獲するため、MCPユニット200の出力側電位よりも高く設定される。一方、第2電極400の電位は、電子イオン化により生成された正イオンなどの不要な正電荷粒子を捕獲するため、MCPユニット200の出力側電位よりも低く設定される。これにより、MCPユニット200へのイオンフィードバックが効果的に抑制される。【選択図】図2
申请公布号 JP2017037783(A) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20150158294 申请日期 2015.08.10
申请人 浜松ホトニクス株式会社 发明人 林 雅宏
分类号 H01J43/24 主分类号 H01J43/24
代理机构 代理人
主权项
地址