| 摘要 |
不変関係分析において、視認性の高い相関図を得る。システム分析装置（１００）は、相関モデル記憶部（１１２）、及び、表示制御部（１０５）を含む。相関モデル記憶部（１１２）は、システムにおけるメトリック間の相関関係を示す相関モデルを記憶する。表示制御部（１０５）は、表示領域を、分割領域ｉの面積が分割領域ｉ＋１の面積以上となるように、ｎ個の分割領域ｉ（１≦ｉ≦ｎ）に分割し、相関モデルに含まれる相関関係を辿ることによって得られる複数のクラスタを、クラスタに含まれるメトリックの数が多い順番に、ｉ＝１から順番に選択された分割領域ｉに、ｉが大きくなるに従って割当て数が多くなるように割当て、各分割領域ｉに割当てられたクラスタを当該分割領域ｉに描画する。 |
