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发明名称
半導体装置
摘要
【課題】半導体基板への応力を低減し、又は接合界面での剥離を低減できる構造を備えた半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置100は、基台2と、基台2上に配置された金属層3と、金属層3上に配置された略矩形の半導体基板1と、基台2と金属層3と半導体基板1とを封止する封止樹脂4とを備え、基台2と半導体基板1との間で、かつ半導体基板1の角部の直下には支持部8が配置され、支持部8と封止樹脂4との密着力は、金属層3と封止樹脂4との密着力よりも強い。【選択図】図1
申请公布号
JP2017037866(A)
申请公布日期
2017.02.16
申请号
JP20130269300
申请日期
2013.12.26
申请人
パナソニック株式会社
发明人
井上 大輔;荒木 雅尚;藤井 俊夫
分类号
H01L21/52
主分类号
H01L21/52
代理机构
代理人
主权项
地址
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