发明名称 半導体装置およびその製造方法
摘要 半導体基板SB上に第1絶縁膜を介してコイルCL1が形成され、第1絶縁膜およびコイルCL1を覆うように第2絶縁膜が形成され、第2絶縁膜上にパッドPD1が形成されている。第2絶縁膜上には、パッドPD1の一部を露出する開口部OP1を有する積層膜LFが形成され、前記積層絶縁膜上にコイルCL2が形成されている。コイルCL2はコイルCL1の上方に配置され、コイルCL2とコイルCL1とは磁気的に結合されている。積層膜LFは、酸化シリコン膜LF1と、その上の窒化シリコン膜LF2と、その上の樹脂膜LF3とからなる。
申请公布号 JPWO2014155478(A1) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20150507709 申请日期 2013.03.25
申请人 ルネサスエレクトロニクス株式会社 发明人 船矢 琢央;五十嵐 孝行
分类号 H01L21/822;H01F17/00;H01F19/04;H01F41/04;H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/522;H01L27/04 主分类号 H01L21/822
代理机构 代理人
主权项
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