发明名称 半導体装置およびその製造方法
摘要 【課題】空間電荷制限電流の伝導特性を用いた半導体装置が、高温で安定動作し、より小型にできるようにする。【解決手段】キャリア走行層101と、キャリア走行層101の一方の面に接して形成された第1キャリア供給層102と、キャリア走行層101の他方の面に接して形成された第2キャリア供給層103とを備える。キャリア走行層101は、バンドギャップエネルギーが3eV以上の半導体から構成されて空間電荷制限電流によりキャリアの輸送特性が律速される状態とされている。【選択図】 図1A
申请公布号 JP2017037030(A) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20150159362 申请日期 2015.08.12
申请人 日本電信電話株式会社 发明人 田邉 真一;渡邉 則之
分类号 G01R33/09;H01L29/66 主分类号 G01R33/09
代理机构 代理人
主权项
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