| 摘要 |
測定装置は、発生部と、測定部とを具備し、流体の流れにより粒子が通過する狭窄路と、前記狭窄路付近に設けられた測定電極部とを有する流路デバイスを用いて、所定の測定を行う。前記発生部は、前記狭窄路における前記粒子を含む前記流体のコンダクタンスと、前記測定電極部により形成される電気二重層キャパシタンスとで規定される特性周波数より高く、かつ、前記粒子のサイズに応じたコンダクタンスを示す周波数領域を持つ交流電圧を前記測定電極部に発生させる。前記測定部は、前記交流電圧が前記測定電極部に印加された状態で、前記狭窄路を前記粒子が通過する時の少なくとも前記コンダクタンスを含む電気量を測定する。 |
