发明名称 温度補正方法、温度補正プログラム、温度補正装置、及び座標測定機
摘要 【課題】目盛誤差をより低減することができる温度補正方法、温度補正プログラム、温度補正装置、及び座標測定機を提供する。【解決手段】呼び寸法Lが異なる複数のワークの目盛誤差Ecを得るステップと、asをスケールの熱膨張係数、Lwを測定した長さ、tsを長さLwを測定したときの前記スケールの温度とした場合、下記式(1)及び(2)から、等価スケール温度係数誤差dksとスケールオフセット誤差dts0を算出するステップとを備えることを特徴とする。dks=(Ec2−Ec1)/as(Lw2−Lw1)(ts−20)・・・(1)dts0=(Ec1Lw2−Ec2Lw1)/as(Lw2−Lw1)・・・(2)【選択図】図2
申请公布号 JP2017037068(A) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20160153201 申请日期 2016.08.03
申请人 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター 发明人 大西 徹;村上 祐一
分类号 G01B21/20;G01B5/008 主分类号 G01B21/20
代理机构 代理人
主权项
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