发明名称 両面回路基板の検査装置及び検査方法
摘要 【課題】簡単な構造で被検査物の固定を可能とし、その被検査物の電気回路を表裏両面で同時に導通検査等することができる検査装置及び検査方法を提供する。【解決手段】被検査物1の表面1a及び裏面1bのそれぞれに設けられた表面電極11及び裏面電極12を通じて、被検査物1の電気的特性を測定するための検査装置10であって、被検査物1を位置決めするガイド台2と、その被検査物1の表面電極1aに接触して電気的特性を測定する複数の第1プローブ3と、被検査物1の裏面電極12に接触して電気的特性を測定する第2プローブ5とを備え、ガイド台2に載せられた被検査物1の表面電極11に接触させる第1プローブ3の総接触荷重よりも小さい総接触荷重で第2プローブ5を裏面電極12に接触させる両面回路基板の検査装置によって上記課題を解決する。【選択図】図1
申请公布号 JP2017036997(A) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20150158400 申请日期 2015.08.10
申请人 東京特殊電線株式会社 发明人 長谷 真吾;深澤 雅章
分类号 G01R31/02;G01R31/28;H05K3/00 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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