发明名称 超音波検査方法および装置
摘要 非均質で音響異方性を有する材料においても、欠陥位置を高精度に、かつ、検査時間を短縮することが可能な超音波検査方法および装置を提供することにある。このような課題を解決するために本発明の超音波検査方法は、収録した超音波波形から第一の探傷画像を作成するステップと、収録した超音波波形から求めた荷重条件を含む逆伝搬解析モデルを作成するステップと、前記逆伝搬解析モデル上で逆伝搬解析を実施した結果から第二の探傷画像を作成するステップと、を有することを特徴とする超音波検査方法である。なお、前記第一の探傷画像から有意な反射信号を検出するステップと、前記有意な反射信号から各超音波送信位置までのそれぞれの伝搬時間を求める順伝搬解析を実施するステップと、前記伝搬時間より各超音波送信位置における遅延時間情報を求めるステップと、前記遅延時間を付与した逆伝搬解析モデルを作成するステップを更に有しても良い。
申请公布号 JPWO2014167698(A1) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20150511038 申请日期 2013.04.12
申请人 株式会社日立製作所 发明人 溝田 裕久;永島 良昭;中畑 和之
分类号 G01N29/52;G01N29/06 主分类号 G01N29/52
代理机构 代理人
主权项
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