发明名称 穀粒の品質測定装置
摘要 【課題】測定すべき穀粒の形態に対応してインペラの回転速度を可変可能とすることで、穀粒の形態に影響されることなく安定した測定結果を容易に得ることが可能な穀粒の品質測定装置を提供する。【解決手段】筐体2の上部に設けられて穀粒が投入されるホッパ3と、該ホッパ3内に投入された穀粒をその回転により搬送するインペラ4と、該インペラ4の下方に配設され所定量の穀粒が充填可能な試料測定部7と、該試料測定部7内の穀粒の品質を光学的に測定する測定手段と、ホッパ3に投入される穀粒の形態に応じてインペラ4の回転速度を可変させ得る制御装置と、を備えることを特徴とする。【選択図】図1
申请公布号 JP2017037078(A) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20160168622 申请日期 2016.08.30
申请人 静岡製機株式会社 发明人 石津 裕之;青島 由武;福元 義高;殿柿 章子
分类号 G01N33/10;G01N21/359 主分类号 G01N33/10
代理机构 代理人
主权项
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