| 发明名称 |
TEST DEVICE AND SYSTEM FOR TESTING A PLURALITY OF SEMICONDUCTOR APPARATUS |
| 摘要 |
테스트 시스템은 복수의 반도체 장치를 테스트할 수 있는 테스트 장치를 포함할 수 있다. 상기 복수의 반도체 장치는 복수의 전원을 수신하여 동작할 수 있다. 상기 테스트 장치는 상기 복수의 전원의 사용량을 고려하여 상기 복수의 전원을 공급하는 파워 핀의 개수를 다양화할 수 있다. |
| 申请公布号 |
KR20170018180(A) |
申请公布日期 |
2017.02.16 |
| 申请号 |
KR20150111106 |
申请日期 |
2015.08.06 |
| 申请人 |
에스케이하이닉스 주식회사 |
发明人 |
김선경;태선경 |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R1/04;G01R1/073 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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