发明名称 応力計測装置及び応力計測方法
摘要 【課題】赤外線サーモグラフィによる応力計測精度を向上する。【解決手段】試料2の表面温度を検出するサーモグラフィ3と、サーモグラフィ3からの信号に基づいて試料2にかかる応力を演算する演算部4と、を備える応力計測装置1である。演算部4は、予め定められた校正基準点において、ロードセル6からの荷重信号と試料2の形状(断面積)とに基づいて補正係数E’(すなわち、熱弾性係数k)を校正する。そして、校正された補正係数E’を用いて、サーモグラフィ3により計測された試料2の温度変化ΔTから試料2の応力変化量Δσを演算する。【選択図】図1
申请公布号 JP2017036978(A) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20150157848 申请日期 2015.08.10
申请人 株式会社明電舎 发明人 渡辺 広光
分类号 G01L1/00 主分类号 G01L1/00
代理机构 代理人
主权项
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