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发明名称
レーザ変位測定装置及びレーザ変位測定方法
摘要
【課題】スペックルの影響を抑えて測定精度の向上を図ることができるレーザー変位測定装置及びその方法を提供する。【解決手段】レーザ光Sの位相を位相変調手段7によりランダムに変化させて測定面Tに照射し、測定面Tで反射された反射光Rの重心位置を位置検出素子11により検出する。検出された重心位置は重心位置平均化手段13により平均化される。平均化することにより重心位置が正規分布に近づき、異常振幅が減少するため、スペックルの影響が小さくなって測定精度が向上する。【選択図】 図2
申请公布号
JP2017037010(A)
申请公布日期
2017.02.16
申请号
JP20150158689
申请日期
2015.08.11
申请人
三鷹光器株式会社
发明人
三浦 勝弘
分类号
G01B11/00
主分类号
G01B11/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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