| 发明名称 | 一种辐射剂量率低功耗探测与宽量程刻度方法及装置 | ||
| 摘要 | 一种辐射剂量率低功耗探测与宽量程刻度方法，通过时序控制GM计数管工作方式从硬件上实现GM计数管的死时间消除，降低GM计数管放电功耗；通过控制电压变换单元间歇工作，在保证正确探测的前提下降低系统的空载功耗；通过施加反向电压，减少GM计数管放电过程对猝灭体的消耗与对阳极丝的损伤；通过多项式插值法实现装置刻度。本发明实现了硬件死时间校正；有延长GM计数管寿命的潜能；剂量率探测装置完成刻度，确定式（1）中的各个刻度系数<i>a</i><sub><i>i</i>,<i>k</i></sub>（<i>k</i>=<i>m</i>,<i>m</i>‑1,…,1,0）后，可减小未知误差对测量结果的影响，最终获得较准确的剂量率。 | ||
| 申请公布号 | CN104316950B | 申请公布日期 | 2017.02.15 |
| 申请号 | CN201410552821.6 | 申请日期 | 2014.10.17 |
| 申请人 | 吴雪梅 | 发明人 | 刘志强;马红光;吴雪梅 |
| 分类号 | G01T1/02(2006.01)I;G01T1/18(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 西安亿诺专利代理有限公司 61220 | 代理人 | 韩素兰 |
| 主权项 | 一种辐射剂量率低功耗探测与宽量程刻度方法，其特征在于：通过时序控制GM计数管工作方式从硬件上实现GM计数管的死时间消除，降低GM计数管放电功耗；通过控制电压变换单元间歇工作，在保证正确探测的前提下降低系统的空载功耗；通过施加反向电压，减少GM计数管放电过程对猝灭体的消耗与对阳极丝的损伤；通过多项式插值法实现装置刻度。 | ||
| 地址 | 710000 陕西省西安市太白南路168号西安文理学院化学与化学工程学院 | ||