发明名称 用于接触‑光学确定测量物体的几何形状的方法和装置
摘要 本发明涉及一种用于借助接触‑光学测量法确定坐标测量仪中工件的结构和/或几何形状的方法和布置,其中借助于第一传感器利用光学侧向测量法沿至少一个方向来确定接触形成元件的位置以及利用至少一个距离传感器沿至少一个第二方向来确定接触形成元件的位置。为了利用传感器实现无错误地检测接触形成元件,提出使用至少一个柔性的连接元件以用于在支架中固定接触形成元件,所述连接元件由第一传感器的光路沿射束方向穿过,其中所述连接元件是透明的和/或布置为关于第一传感器强烈地散焦。
申请公布号 CN102822618B 申请公布日期 2017.02.15
申请号 CN201080062452.2 申请日期 2010.11.26
申请人 沃思测量技术股份有限公司 发明人 R.克里斯托弗;M.安德雷斯;I.施密特;M.赫希勒;B.霍普
分类号 G01B11/00(2006.01)I;G01B5/012(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 梁冰;杨国治
主权项 用于在坐标测量仪中借助接触‑光学测量法来确定物体的结构和/或几何形状的方法,其中沿所述坐标测量仪的至少一个方向借助于传感器装置的第一传感器利用光学侧向测量法来确定接触形成元件的或至少一个配属于所述接触形成元件的标记的位置,并且沿所述坐标测量仪的至少一个第二方向利用所述传感器装置的至少一个距离传感器来确定所述接触形成元件的或至少所述配属于所述接触形成元件的标记的位置,其中,所述接触形成元件以及在存在配属于所述接触形成元件的至少一个标记时所述标记从杆出发,其特征在于,使用至少一个柔性的连接元件以用于在支架中固定所述杆,所述连接元件被所述第一传感器的光路沿射束方向穿过;所述至少一个柔性的连接元件是透明的和/或布置为关于所述第一传感器强烈地散焦。
地址 德国吉森