发明名称 一种Zn:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜基MSM结构日盲紫外光电探测器及其制备方法
摘要 本发明公开了一种Zn:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜基MSM结构日盲紫外光电探测器及其制备方法,具体是指以c面蓝宝石单晶为衬底,采用磁控溅射生长沿着<img file="DDA0001117989560000011.GIF" wi="107" he="83" />晶面择优生长的Zn掺杂β‑Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜(Zn:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>)作为光吸收层,并在其上溅射Au/Ti叉指电极作为光生载流子的收集电极,制备获得的Zn:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜基MSM结构日盲紫外光电探测器。本发明通过Zn掺杂提高了Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜基MSM结构日盲紫外光电探测器的光响应速度,采用在Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>靶材起辉圈周围放置特定数量的Zn颗粒生长特定浓度Zn:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜,方法简单。本发明采用商业化的制备方法磁控溅射生长薄膜,工艺可控性强,易操作,所得薄膜表面致密、厚度稳定均一、可大面积制备、重复性好。该发明制备的Zn:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜基MSM结构日盲紫外光电探测器在日盲紫外探测领域具有潜在的应用前景。
申请公布号 CN106409963A 申请公布日期 2017.02.15
申请号 CN201610837110.2 申请日期 2016.09.21
申请人 浙江理工大学 发明人 郭道友;秦新元;王顺利;时浩泽;李培刚;唐为华;沈静琴
分类号 H01L31/09(2006.01)I;H01L31/0264(2006.01)I 主分类号 H01L31/09(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 郑海峰
主权项 一种Zn:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜基MSM结构日盲紫外光电探测器,其特征在于由Zn:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜、蓝宝石衬底和Au/Ti叉指电极组成,所述的Zn:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜厚度为150‑200nm,位于蓝宝石衬底上,面积与蓝宝石衬底相同,Au/Ti叉指电极位于Zn:Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜上,包括Ti薄膜电极和Au薄膜电极,Ti薄膜电极厚度为30nm,Au薄膜电极在Ti薄膜电极的上方,厚度为70nm,Au/Ti叉指电极的长度为2800微米,宽度为200微米、间距为200微米。
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