一种测量治具

摘要

本实用新型提供一种测量治具，包括机架和基座，机架上设有三个突起螺丝，基座设置在机架的上端，机架上的三个螺丝透过基座，基座的上端设有盖环，透过基座上端的三个螺丝上设有假片，所述假片处于基座和盖环之间，所述三个突起螺丝的顶端在同一个平面上，所述假片的表面是光滑的。本实用新型在基座和盖环之间设有假片，可以用塞尺去测量假片和盖环之间的间隙，而且测量结果比较精确，减少了基座上产品硅片与盖环之间的测量误差，提高了产品的质量。

主权项

一种测量治具，包括机架(1)和基座(3)，其特征在于，所述机架(1)上设有三个突起螺丝(2)，所述基座(3)设置在所述机架(1)的上端，所述机架(1)上的三个螺丝(2)透过基座(3)，所述基座(3)的上端设有盖环(5)，透过所述基座(3)上端的三个螺丝(2)上设有假片(4)，所述假片(4)处于所述基座(3)和所述盖环(5)之间。