芯片的虚焊测试装置及测试方法

摘要

本发明公开了一种芯片的虚焊测试装置及测试方法，该虚焊测试装置包括MCU、计算机、保护电路和测试槽，所述芯片安装于测试槽内；所述保护电路用于检测所述芯片是否正确安装于所述测试槽内；所述MCU用于在所述保护电路检测到所述芯片正确安装于所述测试槽时，对所述芯片的引脚进行检测，并将检测结果发送至所述计算机。本发明的芯片的虚焊测试装置及测试方法可以实现对芯片焊接状态的自动检测，无需开发外设功能，节约了成本，提高了虚焊测试效率和芯片的合格率。

主权项

一种芯片的虚焊测试装置，其特征在于，包括MCU、计算机、保护电路和测试槽，所述芯片安装于测试槽内；所述保护电路用于检测所述芯片是否正确安装于所述测试槽内；所述MCU用于在所述保护电路检测到所述芯片正确安装于所述测试槽时，对所述芯片的引脚进行检测，并将检测结果发送至所述计算机。