发明名称 |
一种显示屏残影检测系统及其方法 |
摘要 |
本发明公开了一种显示屏残影检测系统及其方法。包括:获得待检测残影的显示屏图像;获得显示屏图像中显示画面部分;对显示画面部分进行傅里叶变换,获取表征残影对应的特征频率的第一频谱能量值,获取参考频率的第二频谱能量值;判断第一与第二频谱能量值的比值是否超出检测合格的数值范围,若超出判断为不合格。通过上述方式,本发明能够解决传统人眼判断影像残留的主观性,准确判断、客观评价显示屏残影的严重程度。 |
申请公布号 |
CN106409193A |
申请公布日期 |
2017.02.15 |
申请号 |
CN201610539746.9 |
申请日期 |
2016.07.08 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
王艳雪;陈黎暄;张静;张云;李岩松 |
分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
主分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 |
代理人 |
何青瓦 |
主权项 |
一种显示屏残影检测方法,其特征在于,包括:获得待检测残影的显示屏图像;识别出所述显示屏图像中所述显示屏的位置,进而获得所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分;对所述显示画面部分进行傅里叶变换,获取所述显示画面部分表征残影对应的特征频率在频域结构中的第一频谱能量值,另外获取所述显示画面部分参考频率在频域结构中的第二频谱能量值;判断所述第一频谱能量值与所述第二频谱能量值的比值是否超出对应检测合格的数值范围,若超出所述数据范围,则判断为不合格,否则为合格。 |
地址 |
518006 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号 |