| 发明名称 | 一种检测磁盘的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种检测磁盘的方法及装置，该方法包括：采集磁盘的N个输入输出I/O相关指标一一对应的一组N个实时数据；其中所述N个I/O相关指标包括所述磁盘的I/O响应时间及影响所述I/O响应时间的指标；所述I/O响应时间为从应用下发操作请求开始到接收到所述磁盘对所述请求的响应为止的时间；N为大于或等于2的整数；根据所述N个实时数据确定所述I/O响应时间是否异常；所述I/O响应时间异常表示所述磁盘不能够正常运行业务；所述I/O响应时间正常表示所述磁盘能够正常运行业务；若所述I/O响应时间异常，则输出检测结果，所述检测结果用于表征所述I/O响应时间异常。 | ||
| 申请公布号 | CN106407052A | 申请公布日期 | 2017.02.15 |
| 申请号 | CN201510465856.0 | 申请日期 | 2015.07.31 |
| 申请人 | 华为技术有限公司 | 发明人 | 李静辉;张金冬;黄澄 |
| 分类号 | G06F11/22(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人 | 冯艳莲 |
| 主权项 | 一种检测磁盘的方法，其特征在于，包括：采集磁盘的N个输入输出I/O相关指标一一对应的一组N个实时数据；其中所述N个I/O相关指标包括所述磁盘的I/O响应时间及影响所述I/O响应时间的指标；所述I/O响应时间为从应用下发操作请求开始到接收到所述磁盘对所述请求的响应为止的时间；N为大于或等于2的整数；根据所述N个实时数据确定所述I/O响应时间是否异常；所述I/O响应时间异常表示所述磁盘不能够正常运行业务；所述I/O响应时间正常表示所述磁盘能够正常运行业务；若所述I/O响应时间异常，则输出检测结果，所述检测结果用于表征所述I/O响应时间异常。 | ||
| 地址 | 518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 | ||