芯片的测试方法和装置

摘要

本发明公开了一种芯片的测试方法和装置。其中，该装置包括：现场可编程门阵列，生成用于测试待测试芯片的至少一个测试图像；数据转换装置，通过现场可编程门阵列的第一数据传输接口与现场可编程门阵列电连接，用于将现场可编程门阵列生成的测试图像的图像数据转换成目标信号；待测试芯片，通过数据转换装置的第二数据传输接口与数据转换装置电连接，用于根据目标信号生成控制信号，其中，控制信号用于控制显示器显示测试图像。本发明解决了现有技术中对TCON进行测试时，测试功能较单一的技术问题。

主权项

一种芯片的测试装置，其特征在于，包括：现场可编程门阵列，生成用于测试待测试芯片的至少一个测试图像；数据转换装置，通过所述现场可编程门阵列的第一数据传输接口与所述现场可编程门阵列电连接，用于将所述现场可编程门阵列生成的所述测试图像的图像数据转换成目标信号；所述待测试芯片，通过所述数据转换装置的第二数据传输接口与所述数据转换装置电连接，用于根据所述目标信号生成控制信号，其中，所述控制信号用于控制显示器显示所述测试图像。