一种用于f‑θ光学系统畸变的标定方法

摘要

本发明提出了一种f‑θ光学系统的畸变测试装置，测试装置包括依次设置的转台、转台上的导轨、被标定的光学系统物方的目标发生器、被标定光学系统的像方的像分析器。本发明的一种用于f‑θ光学系统畸变的标定装置及方法，可同时实现不同物距目标的提供。

主权项

一种f‑θ光学系统的畸变测试方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：1)将目标发生器固定在长导轨载物台上，通过长导轨的移动，给出不同距离的目标；2)将长导轨安装在转台上，将f‑θ光学系统装在专用工装上；长导轨前后移动，使目标位于f‑θ光学系统的标准工作距离处；3)光源发出的光经聚光镜后变为准直光出射，经滤光片转换为所需要的波长后，再次经过聚光镜照亮星孔板，被照亮的星孔板经目标微缩镜后缩小成像，作为最终目标提供给被测f‑θ光学系统；4)调整目标发生器光轴、f‑θ光学系统光轴和像分析器视轴位于一条直线上，沿f‑θ光学系统光轴方向调节像分析器三维移动支架，使其位于最佳像面位置；5)在计算机中设置相应的参数，自动控制软件控制转台转动标准角度，同时联动控制三维移动支架在像面垂直被测光学系统平移，此时会在像分析器的探测器上显示目标经f‑θ光学系统所成的像，同时采集转台转动的角度、三维移动支架移动的长度、目标图像；6)自动控制软件控制转台在f‑θ光学系统视场内转动，每转过一个视场角后，完成控制采集工作，得到一系列的转台角度ω_i、三维移动支架的长度y_i和目标图像；7)读取目标图像中星点像的位置信息l_I，再根据畸变算法计算f‑θ光学系统不同视场的畸变。