发明名称 一种超材料的制备方法和超材料
摘要 本发明实施例提供了一种超材料制备的方法,该方法包括:在衬底上形成第一绝缘层;在第一绝缘层上淀积第一本征多晶硅层;对所述第一本征多晶硅进行掺杂,获得第一导体层;在所述第一导体层上形成预设的微结构阵列;在具有微结构阵列的第一导体层上淀积第二绝缘层;在第二绝缘层上淀积第二本征多晶硅层;对第二本征多晶硅层进行掺杂,获得第二导体层;在第二导体层上形成所述预设的微结构阵列。本发明实施例还提供了一种采用上述实施例制备的超材料。能够得到微结构可控性能更高、具有双晶硅电容特性的超材料。
申请公布号 CN102983070B 申请公布日期 2017.02.15
申请号 CN201110260989.6 申请日期 2011.09.05
申请人 深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司 发明人 刘若鹏;赵治亚;缪锡根;杨宗荣
分类号 H01L21/28(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I;H01L29/41(2006.01)I;H01L29/92(2006.01)I 主分类号 H01L21/28(2006.01)I
代理机构 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人 张全文
主权项 一种超材料制备的方法,其特征在于,所述方法包括:在衬底上形成第一绝缘层;在第一绝缘层上淀积第一本征多晶硅层;对所述第一本征多晶硅进行掺杂,获得第一导体层;在所述第一导体层上形成预设的微结构阵列;在具有微结构阵列的第一导体层上淀积第二绝缘层;在第二绝缘层上淀积第二本征多晶硅层;对第二本征多晶硅层进行掺杂,获得第二导体层;在第二导体层上形成所述预设的微结构阵列,其中,所述微结构阵列为轴对称图形或者非轴对称图形,在所述第一导体层上形成预设的微结构阵列,包括:在所述第一导体层上涂覆一层光刻胶,根据预设的微结构阵列对所述光刻胶进行光刻;在第一导体层上刻蚀或者蚀刻出光刻胶上光刻后形成的微结构阵列;相应的,在第二导体层上形成所述预设的微结构阵列,包括:在所述第二导体层上涂覆一层光刻胶,根据预设的微结构阵列对所述光刻胶进行光刻;在第二导体层上刻蚀或者蚀刻出光刻胶上光刻后形成的微结构阵列;对所述第一本征多晶硅进行掺杂,包括:将P型或者N型杂质注入到所述第一本征多晶硅层中;相应的,对第二本征多晶硅层进行掺杂,包括:将P型或者N型杂质注入到所述第二本征多晶硅层中。
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