发明名称 |
电子元件老化测试装置 |
摘要 |
本发明涉及一种电子元件老化测试装置,包括:载板和侧导向板。使用该电子元件老化测试装置,无需将电子元件焊接在PCB板上进行老化测试,只需将电子元件放置于安装槽中,通过侧导电针和中间导电板分别与电子元件的两个端电极电连接,然后与外接电源连接即可进行电流老化测试,不损伤产品,因此可对所有产品进行测试,有效杜绝产品缺陷,使用方便快捷,稳定准确,可批量化测试,提高工作效率,降低成本。 |
申请公布号 |
CN106405274A |
申请公布日期 |
2017.02.15 |
申请号 |
CN201610728507.8 |
申请日期 |
2016.08.25 |
申请人 |
深圳振华富电子有限公司;中国振华(集团)科技股份有限公司 |
发明人 |
方祥武;王智会;高憬楠;黄寒寒;尹红葵;徐鹏飞 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
吴平 |
主权项 |
一种电子元件老化测试装置,其特征在于,包括:载板,所述载板上设有安装槽,所述安装槽的一侧设有用于与电子元件端电极电连接的中间导电板,所述安装槽侧壁上开设有通孔;侧导向板,位于所述载板的一侧,可相对所述载板移动,所述侧导向板上固设有侧导电针,所述侧导电针的一端可通过所述通孔并伸入所述安装槽,用于与所述电子元件的另一端电极电连接。 |
地址 |
518109 广东省深圳市龙华清湖和平东路振华工业园4F |