发明名称 CMP POLISHING HEAD CMP APPARATUS HAVING POLISHING HEAD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING METHOD USING CMP APPARATUS
摘要 (과제) 연마 균일성이 향상되는 CMP 연마 장치의 연마 헤드를 제공한다. (해결 수단) 연마 패드 상의 웨이퍼와, 웨이퍼의 이면에 맞닿고, 웨이퍼의 표면을 연마 패드에 누르는 에어백과, 에어백과 상기 웨이퍼를 둘러싸는 탑 링을 구비하는 연마 헤드에 있어서, 웨이퍼의 중심부에 맞닿는 에어백의 막 두께보다 웨이퍼의 외주부에 맞닿는 에어백의 막 두께를 두껍게 한다.
申请公布号 KR20170017783(A) 申请公布日期 2017.02.15
申请号 KR20160099356 申请日期 2016.08.04
申请人 에스아이아이 세미컨덕터 가부시키가이샤 发明人 야마모토 스케히로
分类号 H01L21/304;B24B37/04;B24B37/11;H01L21/306;H01L21/687 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人
主权项
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