发明名称 基于最佳底面压强测量点的粮仓储粮重量检测方法与装置
摘要 本发明涉及基于最佳底面压强测量点的粮仓储粮重量检测方法与装置,根据粮仓底面压强分布与压强测量值变化特点,提出了一种基于最佳底面压强测量点的粮仓储粮数量检测方法,核心技术包括底面压强测量点的一致性度量模型、最佳底面压强测量点的位置检测方法、基于最佳底面压强测量点的粮仓重量检测模型、系统标定与建模方法等技术。所提出方法具有检测精度高,所需压力传感器少,仅需2~3个,通用性强,适应多种粮仓结构类型的储量数量检测。所提出检测方法具有巨大的应用价值,为保障国家粮食数量安全提供了新的技术手段。
申请公布号 CN104296845B 申请公布日期 2017.02.15
申请号 CN201410133459.9 申请日期 2014.04.03
申请人 河南工业大学 发明人 张苗;张德贤;张元;张庆辉;樊超;杨卫东;杨铁军;傅洪亮;王洪群;王贵财;许伟涛;金广峰;王高平;王珂;刘灿;堵世良;李智强;司如言
分类号 G01G17/00(2006.01)I 主分类号 G01G17/00(2006.01)I
代理机构 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人 胡泳棋
主权项 基于最佳底面压强测量点的粮仓储粮重量检测方法,其特征在于,步骤如下:步骤1)选取最佳底面压强测量点,最佳底面压强测量点是检测一致性高的测量点;步骤2)求所有最佳底面压强测量点的压强测量值均值,带入基于底面压强的储粮重量检测模型,计算储粮重量;一致性高的测量点选取规则为:设有n<sub>W</sub>种储粮重量W<sub>i</sub>,i=1,...,n<sub>w</sub>,每种储粮重量均测量n<sub>M</sub>次;对于任一给定的粮仓底面压强测量点s,粮仓储粮重量W<sub>i</sub>的第k次测量时测量点s的测量值为Q<sub>B</sub>(s,W<sub>i</sub>,k),k=1,...,n<sub>M</sub>,定义<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>C</mi><mi>M</mi><mrow><mo>(</mo><mi>s</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mfrac><mn>100</mn><msub><mi>n</mi><mi>W</mi></msub></mfrac><munder><mo>&Sigma;</mo><mi>i</mi></munder><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><munder><mrow><mi>m</mi><mi>a</mi><mi>x</mi></mrow><mi>k</mi></munder><mrow><mo>(</mo><msub><mi>Q</mi><mi>B</mi></msub><mo>(</mo><mrow><mi>s</mi><mo>,</mo><msub><mi>W</mi><mi>i</mi></msub><mo>,</mo><mi>k</mi></mrow><mo>)</mo><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><munder><mi>min</mi><mi>k</mi></munder><mrow><mo>(</mo><msub><mi>Q</mi><mi>B</mi></msub><mo>(</mo><mrow><mi>s</mi><mo>,</mo><msub><mi>W</mi><mi>i</mi></msub><mo>,</mo><mi>k</mi></mrow><mo>)</mo><mo>)</mo></mrow></mrow><mrow><mfrac><mn>1</mn><msub><mi>n</mi><mi>k</mi></msub></mfrac><munder><mo>&Sigma;</mo><mi>k</mi></munder><msub><mi>Q</mi><mi>B</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mi>s</mi><mo>,</mo><msub><mi>W</mi><mi>i</mi></msub><mo>,</mo><mi>k</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mfrac><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FDA0001142562600000011.GIF" wi="1446" he="183" /></maths>为底面压强测量点s的一致性度量;对于任一测量点s,CM(s)越小,则其测量一致性越高,反之则相反;CM(s)&lt;Th时,Th为给定的门限参数,Th&gt;0,测量点s为最佳底面压强测量点。
地址 450001 河南省郑州市高新技术产业开发区莲花街河南工业大学信息科学与工程学院