发明名称 一种PIG取样及监测系统和方法
摘要 本发明公开了一种PIG取样及监测系统和方法,包括取样回路单元和放射性测量分析控制单元,取样回路单元包括气溶胶累积取样子单元和放射性气体累积取样子单元,气溶胶累积取样子单元包括过滤器;放射性气体累积取样子单元包括气体累积取样器和分子滤膜;放射性测量分析控制单元包括HPGe探测器、能谱分析仪和计算机。HPGe探测器同时对上述两个子单元的放射性进行测量,能谱分析仪对测量信息进行处理并给出放射性能谱信息,放射性能谱信息和取样回路单元的流量控制信息一并发送到计算机处理,得到气载流体各核素的活度浓度。本发明实现了对气载流体中PIG进行累积取样测量,提高了PIG中放射性核素测量的准确度,且具有较好的实时性。
申请公布号 CN104166154B 申请公布日期 2017.02.15
申请号 CN201410295421.1 申请日期 2014.06.26
申请人 中国核电工程有限公司 发明人 孙元君;王勇;肖代云;赵卫军;章爱平
分类号 G01T7/04(2006.01)I;G01T1/36(2006.01)I;G01T1/18(2006.01)I 主分类号 G01T7/04(2006.01)I
代理机构 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 代理人 任晓航;张海秀
主权项 一种PIG取样及监测系统,包括取样回路单元和放射性测量分析控制单元(30),其特征在于:所述取样回路单元包括气溶胶累积取样子单元(10)和放射性气体累积取样子单元(20),气溶胶累积取样子单元(10)包括用于收集气溶胶的过滤器(11);放射性气体累积取样子单元(20)设置在过滤器(11)的下方,包括气体累积取样器(21)和设置在气体累积取样器(21)下部的分子滤膜(22);放射性测量分析控制单元(30)包括用于对过滤器(11)和气体累积取样器(21)进行放射性测量的HPGe探测器(31),HPGe探测器(31)与能谱分析仪(32)连接,能谱分析仪(32)与计算机(33)连接。
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