发明名称 面向医用CT的重构解析X射线能谱的方法
摘要 本发明主要涉及半导体光电探测及X射线能谱解析领域,为解决现有的能谱解析计算方法主要是通过光电流脉冲的幅值确定X射线光强(光子数)信息,解析结果受射束硬化或电荷堆叠等影响严重,提供一种高精度的重构求解X射线能谱的方法。本发明采用的技术方案是,面向医用CT的重构解析X射线能谱的方法,利用不同厚度的半导体内的光生电荷总数递推得到入射光子数,并根据预设方案调整能谱分段区间及半导体分段区间来重构方程组,进而解析获得多个连续的不同能量段的X射线透过人体后衰减信息。本发明主要应用于半导体光电探测及X射线能谱解析相关设备设计制造场合。
申请公布号 CN106405624A 申请公布日期 2017.02.15
申请号 CN201610770474.3 申请日期 2016.08.30
申请人 天津大学 发明人 史再峰;孟庆振;谢向桅;曹清洁;张嘉平
分类号 G01T1/36(2006.01)I 主分类号 G01T1/36(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 刘国威
主权项 一种面向医用CT的重构解析X射线能谱的方法,其特征是,利用不同厚度的半导体内的光生电荷总数递推得到入射光子数,并根据预设方案调整能谱分段区间及半导体分段区间来重构方程组,进而解析获得多个连续的不同能量段的X射线透过人体后衰减信息。
地址 300072 天津市南开区卫津路92号