发明名称 半導体レーザ素子の製造方法
摘要 【課題】 良好な劈開面を得ることができ、また、得られる半導体レーザ素子のFFPのリップルを低減することができる半導体レーザ素子の製造方法を提供する。【解決手段】 基板の上に活性層を有する半導体積層体が形成されたウェハを準備する工程と、半導体積層体に、X方向に延伸するリッジと、リッジから離間し、X方向と交差するY方向に延伸する複数の第1凹部と、第1凹部よりもリッジに接近して配置される複数の第2凹部と、を形成する工程と、ウェハを、複数の第1凹部に沿って劈開することで光出射面を形成する劈開工程と、を備える半導体レーザ素子の製造方法であって、第2凹部は、光出射面の近傍に位置するように形成し、第2凹部のY方向の長さをL、第2凹部の、Y方向における座標であるY座標が第1凹部と一致する部分のY方向の長さをLa(0<La)としたときに、La<(L−La)の関係を満たす。【選択図】図2A
申请公布号 JP2017033969(A) 申请公布日期 2017.02.09
申请号 JP20150149139 申请日期 2015.07.29
申请人 日亜化学工業株式会社 发明人 原田 享;三好 隆;野中 満宏
分类号 H01S5/10;H01S5/22 主分类号 H01S5/10
代理机构 代理人
主权项
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