发明名称 X線回折測定装置
摘要 【課題】 複雑な形状の測定対象物OBをX線回折測定する前に、回折環に欠落部分が生じないか確認する。【解決手段】 X線と光軸を同一にした平行な可視光を測定対称物OBに照射する可視光出射器と、回折環が形成される位置でテーブル16に取り付けられ、測定対象物OBで発生する散乱光の一部を結像レンズ56を介してフォトディテクタ57で受光し、受光強度を検出する受光装置55とを備える。X線回折測定を行う前に可視光を測定対称物OBに照射し、スピンドルモータ27を回転させて、回転角度に対応させて受光装置55が検出する受光強度を取得する。受光強度が設定値より小さい回転角度は回折環に欠落が発生するとして、回折環の欠落情報を演算する。【選択図】図5
申请公布号 JP2017032282(A) 申请公布日期 2017.02.09
申请号 JP20150149133 申请日期 2015.07.29
申请人 パルステック工業株式会社 发明人 丸山 洋一;鈴木 浩之
分类号 G01N23/205;G01N23/20 主分类号 G01N23/205
代理机构 代理人
主权项
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