| 摘要 |
【課題】被探索画像から抽出されたエッジの数が減少しても、高精度にワークの位置を計測する。【解決手段】複数のモデルエッジを含むモデルを取得する（Ｓ１０２）、被探索画像中、モデルと一致する位置を探索する（Ｓ１０３）。被探索画像中、Ｓ１０３にて探索した位置にモデルを移動させたときの複数のモデルエッジそれぞれを包含する複数のエッジ抽出領域を設定して、各エッジ抽出領域においてエッジを抽出する演算を行う（Ｓ１０４）。エッジを抽出できなかったエッジ抽出領域が存在する場合（Ｓ１０５：Ｎｏ）、Ｓ１０３にて探索した位置に移動させたモデルのうち、エッジを抽出できなかったエッジ抽出領域に位置するモデルエッジをエッジ集合に含め（Ｓ１０７）、このエッジ集合に対してフィッティングを行う（Ｓ１０６）。【選択図】図３ |
