Semiconductor Memory Apparatus and Test Method

摘要

노멀 동작시 노멀 라이트 펄스를 생성하는 노멀 라이트 펄스 생성부, 테스트시 테스트 라이트 펄스를 설정된 회수만큼 반복적으로 생성하는 테스트 라이트 펄스 생성부. 및 상기 노멀 동작시 상기 노멀 라이트 펄스를 메모리 셀에 제공하고, 상기 테스트시 상기 테스트 라이트 펄스를 상기 메모리 셀에 제공하는 선택부를 포함한다.